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SF6精密露點(diǎn)儀測(cè)量產(chǎn)生偽結(jié)露怎么辦?

 更新時(shí)間:2022-12-07 點(diǎn)擊量:527
  SF6精密露點(diǎn)儀也叫微水儀,因此將露點(diǎn)儀長(zhǎng)期放置于大氣環(huán)境中,會(huì)降低露點(diǎn)儀的測(cè)量精度。固定式安裝的露點(diǎn)儀一般2年需要重新校準(zhǔn)一次;而便攜式應(yīng)用的露點(diǎn)儀一般1年就要重新校準(zhǔn)一次,主要原因就是便攜式露點(diǎn)儀和大氣環(huán)境接觸的機(jī)會(huì)更多,測(cè)量精度更容易受到影響。
 
  SF6精密露點(diǎn)儀通過(guò)水分的增減改變電容介電材料的特性,進(jìn)而改變電容值,進(jìn)而改變由電容和電感組成的振蕩電路的振蕩頻率。振蕩頻率的高低反應(yīng)壓縮空氣中水分含量的多少。
 
  根據(jù)所采用介電材料的不同常見(jiàn)的有兩類:氧化鋁型和高分子聚合物薄膜型。氧化鋁型低可以測(cè)量到-100°C的壓力露點(diǎn),薄膜型低可以測(cè)量到-80°C。
 
  讓樣氣流經(jīng)露點(diǎn)冷鏡室的冷凝鏡,通過(guò)等壓制冷,使得樣氣達(dá)到飽和結(jié)露狀態(tài)(冷凝鏡上有液滴析出),測(cè)量冷凝鏡此時(shí)的溫度即是樣氣的露點(diǎn)。該方法的主要優(yōu)點(diǎn)是精度高。
 
  在采用半導(dǎo)體制冷和光電檢測(cè)技術(shù)后,不確定度甚至可達(dá)0.1℃;缺點(diǎn)是響應(yīng)速度較慢,尤其在露點(diǎn)-60℃以下,平衡時(shí)間甚至達(dá)幾個(gè)小時(shí),而且此方法對(duì)樣氣的清潔性和腐蝕性要求也較高,否則會(huì)影響光電檢測(cè)效果或產(chǎn)生‘偽結(jié)露’造成測(cè)量誤差。
 
  鏡面制冷的方法有:半導(dǎo)體制冷、液氮制冷和高壓空氣制冷。鏡面式露點(diǎn)儀采用的是直接測(cè)量方法,在保證檢露準(zhǔn)確、鏡面制冷效率和測(cè)量結(jié)露溫度前提下,該種露點(diǎn)儀可作為標(biāo)準(zhǔn)露點(diǎn)儀使用。目前上精度達(dá)到±0.1℃(露點(diǎn)溫度),一般精度可達(dá)到±0.5℃以內(nèi)。